Вторник, 30.04.2024, 06:57
Главная Регистрация RSS
Приветствую Вас, Гость
Меню сайта
Категории раздела
Архітектура [235]
Астрономія, авіація, космонавтика [257]
Аудит [344]
Банківська справа [462]
БЖД [955]
Біографії, автобіографії, особистості [497]
Біологія [548]
Бухгалтерській облік [548]
Військова кафедра [371]
Географія [210]
Геологія [676]
Гроші і кредит [455]
Державне регулювання [154]
Дисертації та автореферати [0]
Діловодство [434]
Екологія [1309]
Економіка підприємств [733]
Економічна теорія, Політекономіка [762]
Економічні теми [1190]
Журналістика [185]
Іноземні мови [0]
Інформатика, програмування [0]
Інше [1350]
Історія [142]
Історія всесвітня [1014]
Історія економічна [278]
Історія України [56]
Краєзнавство [438]
Кулінарія [40]
Культура [2275]
Література [1585]
Література українська [0]
Логіка [187]
Макроекономіка [747]
Маркетинг [404]
Математика [0]
Медицина та здоров'я [992]
Менеджмент [695]
Міжнародна економіка [306]
Мікроекономіка [883]
Мовознавство [0]
Музика [0]
Наукознавство [103]
Педагогіка [145]
Підприємництво [0]
Політологія [299]
Право [990]
Психологія [381]
Реклама [90]
Релігієзнавство [0]
Риторика [124]
Розміщення продуктивних сил [287]
Образотворче мистецтво [0]
Сільське господарство [0]
Соціологія [1151]
Статистика [0]
Страхування [0]
Сценарії виховних заходів, свят, уроків [0]
Теорія держави та права [606]
Технічні науки [358]
Технологія виробництва [1045]
Логістика, товарознавство [660]
Туризм [387]
Українознавство [164]
Фізика [332]
Фізична культура [461]
Філософія [913]
Фінанси [1453]
Хімія [515]
Цінні папери [192]
Твори [272]
Статистика

Онлайн всего: 1
Гостей: 1
Пользователей: 0
Главная » Статьи » Реферати » Технічні науки

РЕФЕРАТ НА ТЕМУ: Провідність напівпровідників
Провідність напівпровідників

Поняття ефективної маси електронів та дірок.
Елетрони та дірки, що знаходяться в дозволених енергетичних зонах можуть переміщуватись в межах простору кристалу, прискорюючись або сповільнюючись під впливом електричних полів. При цьому їх інерційні властивості характеризуються еффективною масою, яка для вільного електрона в кристалі відрізняється від маси вільного електрона у вакуумі через вплив навколишнього середовища. Оскільки властивості кристалу є анізотропними, то анізотропною є і ефективна маса, тобто в різних кристалічних напямках залежність енергії від імпульсу може бути різною.
Діаграми, які пояснюють поняття еффективної маси вільного носія заряду в кристалі (справа) та у вакуумі (сліва)
Дифузійний та дрейфовий струми в напівпровідниках.
Вільні електрони та дірки в кристалі знаходяться в хаотичному тепловому русі. Якщо існує градієнт концентрації, то носії заряду переміщуються в сторону меншої концентрації, створюючи дифузійний струм. При наявності електричного поля носії заряду, беручи участь у тепловому русі, зміщуються (дрейфують) внаслідок дії сил, що створені електричними полями. Таким чином в напівпровідниковому кристалі існує два типи струмів: дифузійні та дрейфові, каен з яких, в свою чергу, може бути як електроним, так і дірковим.
, , ,
, , ,
де: q - заряд електрона, Dp, Dn - коефіцієнти дифузії дірок та електронів,
mp, mn - рухливості дірок та електронів
Рухливість можна розглядати, як коефіцієнт пропорційності між дрейфовою швидкістю носіїв заряду та напруженністю електричного поля, в якому вони рухаються:
, .
Діаграми, які пояснюють вплив зіткнень на середню швидкість (рухливість) вільних носіїв заряду в кристалі
При кожному неупругому розсіянні відбувається втрата енергії електроном, потім, в електричному полі, він знову прискорюється, і його енергія зростає (правый рисунок зверху). На верхньому лівому рисунку схематично показано траекторію руху електрона в кристалі при наявності електричного поля. Електрон приймає участь в хаотичному тепловому русі та дрейфовому русі, який зумовлений електричним полем. Можна розрахувати, до якої швидкості електрон розженеться внаслідок впливу електричного поля між двома зіткненнями.
Для рухливості розрахунки дають:
,
де m - ефективна маса частинки.
Струм електронів рівний:
,
Електронна провідність:
,
Отже загальна провідність:
.
Електропровідність напівпровідників.
Розсіювання носіїв заряду відбувається, в основному, на коливаннях решітки (фононах) та заряджених атомах домішки. При збільшенні температури разсіювання на решітці зростає і рухливість зменшується за степінним законом з показником -3/2. Розсіяння на іонізованій домішці при зростанні температури зменшується і рухливість зростає за степінним законом з показником 3/2. Тому, при зростанні температури, на електропровідність напівпровідників впливатимуть як зміна з температурою концентрації носіїв заряду, так і зміна їх рухливості. Вплив рухливості на електропровідність особливо заметний на ділянці спустошення домішки в легованих матеріалах.
На лівому графіку (рисунок справа) показано: залежність рухливості від температури при розсіюванні носіїв заряду тільки на кристалічній решітці (крива 1), залежність рухливості від температури при розсіянні тільки на домішках
(крива 2) та залежність рухливості від температури в легованому кристалі, в якому розсіяння може відбуватись як на домішках, так і на решітці (крива 3). На правому графіку в логарифмічному масштабі показані залежності електропровідності, концентрації носіїв заряду та рухливості.
Зміна з температурою провідності власних напівпровідників визначається, в основному, зміною концентрації електронів та дірок, які зросте за експоненційним законом з енергією активації, яка приблизно рівна половині ширини забороненої зони.
Використана література:
Основы промышленной электроники/ Под ред. В.Г. Герасимова. -М.: Высшая школа, 1978.
Изъюрова Г.И., Кауфман М.С. Приборы и устройства промышленной электроники. -М.: Высшая школа, 1975.
Миклашевский С.П. Промышленная электроника. -М.: Высшая школа, 1973.
Горбачев Г.Н., Чаплыгин Е.Е. Промышленная электроника. - М.: Высшая школа, 1988.
Основы промышленной электроники/Под ред. В.Г. Герасимова. - М.: высшая школа, 1982.
Гершунский В.С. Основы электроники. - К.: Вища школа, головн. из-во, 1982.
Жеребцов И.П. Основы электроники. - Л.:Энергоатомиздат, 1985.
Нагорский В.Д. Электроника и электрооборудование. - М.: Высшая школа, 1986.
Категория: Технічні науки | Добавил: DoceNt (16.01.2015)
Просмотров: 402 | Рейтинг: 0.0/0
Всего комментариев: 0
Имя *:
Email *:
Код *: